HAST高加速應力測試儀通過測定的磁導率來計算殘余應力的大小和方向，特別適合不允許做破壞性檢測的產(chǎn)品使用；進行各種材料和結(jié)構(gòu)的殘余應力分析和研究，還可作為在靜力強度研究中測量結(jié)構(gòu)及材料任意點變形的應力分析儀器。如果配用相應的傳感器，也可以測量力、壓力、扭矩、位移和溫度等物理量。

 

　　HAST高加速應力測試儀以計算機為中央微處理機，采用高精度測量放大器、數(shù)據(jù)采集和處理器，測量中無需調(diào)零，可直接測出殘余應力值的大小及方向，實現(xiàn)了殘余應力測量的自動化。

 

　　HAST即高加速應力測試，是通過對樣品施加高溫高濕以及高壓的方式，實現(xiàn)對產(chǎn)品加速老化的一種試驗方法。廣泛用于PCB、IC半導體、連接器、線路板、磁性材料、高分子材料、EVA、光伏組件等行業(yè)相關(guān)之產(chǎn)品作加速老化壽命試驗，用于評估產(chǎn)品密封性、吸濕性及老化性能。

 

　　高加速老化測試是主要用于評估在濕度環(huán)境下產(chǎn)品或者材料的可靠性，是通過在高度受控的壓力容器內(nèi)設定和創(chuàng)建溫度、濕度、壓力的各種條件來完成的，這些條件加速了水分穿透外部保護性塑料包裝并將這些應力條件施加到材料本體或者產(chǎn)品內(nèi)部。

 

　　相對于傳統(tǒng)的高溫高濕測試，如85°C/85％RH，HAST增加了容器內(nèi)的壓力，使得可以實現(xiàn)超過100℃條件下的溫濕度控制，能夠加速溫濕度的老化效果（如遷移，腐蝕，絕緣劣化，材料老化等），大大縮短可靠性評估的測試周期，節(jié)約時間成本。

 

　　HAST高加速老化測試已成為某些行業(yè)的標準，特別是在PCB、半導體、太陽能、顯示面板等產(chǎn)品中，作為標準高溫高濕測試（如85C/85％RH－1000小時）的快速有效替代方案。